Multidiode - Système de mesure de fiabilité de diodes lasers fibrées - Régime continu/impulsionnel

Système pour l'évaluation de la fiabilité de diodes lasers fibrées pouvant produire des impulsions très courtes (< 1 nanoseconde). Jusqu'à 112 diodes lasers sont pilotées indépendamment et testées électriquement, thermiquement et optiquement selon des scénarios programmés par l'utilisateur.

Ce système de mesure de fiabilité de diodes lasers a été conçu spécialement pour la qualification et le test de diodes lasers fibrées avec la meilleure flexibilité de mesure interne ou externe. Toutes les diodes laser sont pilotées et mesurées indépendamment les unes des autres.

Caractéristiques principales :

• La puissance optique est mesurée à partir des signaux issus des BFM (Back Facet Monitors) ou de photodiodes externes dédiées avec un gain électronique variable pour une meilleure précision.
• La température de chaque puce de diode laser ainsi que de chaque boîtier de diode est ajustée indépendamment.
• Plusieurs niveaux de sécurisation des données accumulées sont prévus même en cas de coupure de courant.
• Compatible avec les diodes laser de type Butterfly ou autres facteurs de formes issues de chez II-VI, Lumentum ou encore 3SP.

Ces produits sont maintenant proposés par Aerodiode, une nouvelle entreprise spin-off d'ALPhANOV. Le manager produit est disponible pour répondre aux questions techniques et commerciales.

Caractéristiques du produit :

• Modularité de durée d'impulsion : du continu jusqu'à la nanoseconde.
• Mesure des caractéristiques LIV de la diode laser en mode continu et impulsionnel.
• Chaque diode laser est indépendante (courant, température, mesure optique, etc.).
• Compatible avec des diodes Butterfly ou autres formes de boîtiers (Mini-Butterfly, TOSA, TO-Can, etc.).
• Mémoire Flash de 50 Go avec ordinateur embarqué dans chaque tiroir.
• Programme IHM complet et facile d'utilisation.
• Fenêtre de protection laser complète.

Applications :

• Tests réalisés en parallèle de la production par les équipes R&D et les services de qualification.
• Tests à la fin du processus de production (Burn-In).
• Tests post-production pour des applications nécessitant un haut niveau de fiabilité (aérospatial, nucléaire, etc.).

Une IHM dédiée avec une interface simple d'utilisation permet un contrôle optimal de tous les processus de test de chacune des diodes ou familles de diodes lasers.

Fiche produit :

• Nombre de diodes max par baie : 112
• Gamme de températures puce (°C) : 10 - 55
• Gamme de température boîtier (°C) : 20 - 85
• Stabilité en température (Typ) : < 1 mK
• Modes d'asservissements : ACC, APC, LIV
• Gamme de courants (régime continu) : 1 - 2500 mA
• Gamme de courants (régime impulsionnel) : 1 - 4000 mA
• Durée d'impulsions : De 0.5 ns au continu
• Tension de compliance (ajustable) : 1 - 24 V
• Niveau d'overshoot (ajustable) : Jusqu'à 0%
• Mesure BFM/Photodiode externe : Oui / Oui
• Mesures des caractéristiques « LIV » : Continu / Impulsionnel (prévu)
• Modulation en courant : Externe ou interne (sin/sqr/triang)
• Types de drivers : 1 driver par diode et 1 scénario de test par diode
• Résolution en courant : Jusqu'à 25 µA
• Stabilité en courant : < 0.1 mA
• Mémoire Flash embarquée (par tiroir) : 50 Go

Interface IHM :

• Laser driver GUI Interface 1
• Laser driver GUI Interface 2