Zeiss Xradia Versa 620 - Résolution submicronique pour échantillons intacts et analyse 3D non destructive
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Description
Zeiss Xradia Versa 620 combine une optique unique à grossissement en deux étapes et une source de rayons X à flux élevé pour produire des images à résolution inférieure au micron plus rapidement.
Un nouveau système de contrôle de source améliore la réactivité de la source, permettant une configuration plus rapide de l'analyse. Cela offre une expérience utilisateur plus facile et plus attrayante.
Caractéristiques principales :
Un nouveau système de contrôle de source améliore la réactivité de la source, permettant une configuration plus rapide de l'analyse. Cela offre une expérience utilisateur plus facile et plus attrayante.
Caractéristiques principales :
- Caractérisation non destructive de la microstructure 3D des matériaux sous perturbations contrôlées (in situ).
- Observation de l'évolution des structures dans le temps (4D).
Autres produits du vendeur pour : Inspection à rayons x
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