Axios fast - analyseurs de plomb - malvern panalytical - mesure simultanée de 28 éléments

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Mme. Sandrine Ponthieu
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Description

Cadence d'analyse élevée
Analyse multi-éléments de la composition chimique en quelques secondes
Vous recherchez une solution vous permettent d'effectuer une analyse non destructive de la composition chimique en quelques secondes du fait d'un contrôle des processus critique en termes de temps ou de cadences d'analyse élevées ? Fort de sa capacité à mesurer jusqu'à 28 éléments simultanément dans des gammes de concentration allant de la ppm à 100 %, le spectromètre simultané de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF) Axios FAST de Malvern Panalytical est la solution idéale. Il allie des fonctions d'analyse précises et robustes, une facilité d'utilisation parfaitement adaptée au personnel moins expérimenté et une disponibilité accrue à un faible coût de possession.
Résultats rapides dans les applications critiques Avec des résultats d'analyse disponibles en quelques secondes, l'analyseur élémentaire Axios FAST est un outil idéal pour les applications critiques et les environnements à cadence d'analyse élevée. La production d'acier et d'alliages d'acier ainsi que les laboratoires géologiques ou commerciaux analysant des centaines d'échantillons chaque jour comptent parmi les principaux domaines d'application de l'analyseur.
Fonctionnalités
Cadence d'analyse élevée Grâce à sa gestion rapide des échantillons et à sa fiabilité de fonctionnement exceptionnelle, le spectromètre de fluorescence X simultané Axios FAST représente la solution idéale pour un contrôle analytique ultra rapide.
  • Chargement continu par tourelle
  • Passeur d'échantillon VRC 168 positions avec chargement flexible des plateaux permettant des analyses par lots sans surveillance
  • Chargement direct
  • Lecteur de code-barres sur le passeur d'échantillon pour une analyse des échantillons plus rapide, avec saisie de données automatique et sans erreur
Performances améliorées
  • Mesure simultanée de 28 éléments, avec mesure de 2 secondes au minimum par échantillon
  • Canaux HiPer haute sensibilité pour l'analyse des éléments légers
  • Flexibilité analytique avec possibilité d'utiliser jusqu'à 4 goniomètres
  • Gamme d'anodes pour le tube à rayons X (Rh, Cr, Mo et Au) offrant les meilleurs niveaux de performances pour des applications spécifiques
Uptime amélioré de l'instrument Conçu pour le contrôle critique de production, le système Axios FAST est fabriqué conformément aux normes de qualité les plus strictes et intègre une technologie innovante qui évite et réduit les arrêts.
  • SST-mAX avec technologie ZETA : élimination de la dérive du tube et réduction de la maintenance de la calibration
  • Revêtement CHI-BLUE sur la fenêtre du tube à rayons X pour une meilleure solidité du tube et une plus grande résistance à la corrosion
  • Le dispositif anti-poussière supprime la poussière des échantillons avant la mesure, ce qui réduit l'entrée de la poussière dans le système et optimise l'uptime.
  • La chambre d'analyse compacte avec canaux montés en externe permet un accès complet aux composants essentiels, sans compromettre le système de vide, ce qui permet une stabilisation rapide après la maintenance.
Logiciel éprouvé et dédié pour une intervention limitée de l'utilisateur Le système Axios FAST utilise la version la plus récente du logiciel SuperQ éprouvé de Malvern Panalytical, réputé pour son interface et ses menus intuitifs. Les analyses de routine peuvent être réalisées par un personnel inexpérimenté après un minimum d'instructions. Toutefois, le logiciel dispose de la puissance analytique et des fonctionnalités nécessaires pour répondre aux exigences des utilisateurs les plus expérimentés.
Conçu pour l'automatisation Les interfaces logicielle et matérielle dédiées du système Axios FAST offrent une grande flexibilité de connexion aux systèmes de transport des échantillons et aux ordinateurs hôtes pour une analyse entièrement automatisée. Le système Axios FAST est également la base de la solution TEAMworks (module d'analyse totale des éléments) qui associe l'analyse OES et WDXRF.
Applications
Lorsque l'analyse doit impérativement être effectuée en quelques secondes Le spectromètre Axios FAST exprime toute sa puissance analytique dans les environnements à cadence élevée tels que les services de laboratoire assurant l'analyse d'échantillons de produits miniers (par exemple les minerais de fer et de nickel), mais également dans une large gamme d'applications de production et de contrôle de la qualité relatives à l'industrie du fer et de l'acier exigeant une analyse immédiate des échantillons. Les applications types du spectromètre sont les suivantes : calibration à large échelle des aciers faiblement alliés, ferritiques et austénitiques, calibration à large échelle des alliages d'aluminium, calibration à large échelle des alliages de titane, analyse des aciers faiblement alliés, analyse des aciers inoxydables, analyse des aciers à outils, analyse de la fonte et analyse des échantillons de minerai de fer sous forme de perles.

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