EDS pour micro-analyse élémentaire - Oxford Ultim® Max avec plateforme AZtecLive

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Description

EDS : Mesure quantitative des éléments - Oxford EDS – Ultim® Max EDS with AZtecLive
La série Oxford Ultim® Max EDS d’Oxford Instruments est disponible en tailles de détecteurs de 40, 65, 100 ou 170 mm² pour le SEM CX-200plus complet utilisant la célèbre plateforme logicielle AZtecLive d’Oxford pour la micro-analyse élémentaire simple ou avancée. La plate-forme logicielle AZtecOne plus abordable, conçue pour les utilisateurs novices ou la micro-analyse EDS de base, est également disponible.
L'ajout d'Oxford EDS à votre SEM en fait un outil d'analyse très puissant, offrant une multitude de fonctionnalités utilisant des fonctionnalités de micro-analyse avancées pour l'analyse élémentaire. Les détecteurs Oxford Ultim® Max EDS fournissent une analyse à très haute vitesse avec une technologie SDD étendue et une technologie de post-traitement à grande vitesse. Tirez parti du nouvel AZtecLive d’Oxford pour l’imagerie chimique en temps réel dynamique.
Caractéristiques majeures :
  • Analyse automatisée des caractéristiques / particules
  • Cartographie automatique et cartographie EDS sur de grandes surfaces
  • Analyse d'inclusion de métal (propreté de l'acier - ASTM E1245 / E2142 / E45)
  • Analyse en phase minérale, libération de minéraux, minéralogie modale, pétrographie
  • Résidus de coups de feu - GSR (ASTM E1588)
  • Analyse générale des particules pour la propreté (ISO 16431/18413, IEST 1246D)
  • Analyse de particules d'usure (ARP 598c, ASTM D7416, ASTM F311 / F312, ISO 16232-8, ISO 4407)
  • Particules environnementales sur les filtres ou les lingettes (ASTM D6059, ASTM E2090, ISO 14966)
  • Contamination particulaire dans les injections et les perfusions parentérales (USP 788)

Logiciels et modules :
Oxford AZTecLive : Plateforme complète pour des fonctionnalités avancées d’imagerie chimique en temps réel.
LayerProbe : Un outil logiciel dédié pour l'analyse de couches minces dans le SEM, offrant une résolution supérieure et une économie de temps.
Principales caractéristiques :
  • Détecteur SDD haute vitesse (aucun LN2 requis)
  • Résolution énergétique : moins de 133 eV (en Mn Ka)
  • Zone du détecteur : 10mm² (X-ACT) ou 20mm² (X-MaxN)
  • Plage de détection d'élément : Be (4) - Am (95)
  • Taux de comptage d'entrée maximum : > 100 kcps
  • Modes d'analyse : point, cercle, polygone, balayage linéaire, cartographie

Cartographie :
  • Analyse cartographique rapide et haute résolution avec le cube de données d'Oxford
  • Cartes de distribution des éléments divisibles et sauvegardables séparément
  • Paramètres utilisateur variés pour formats, couleurs, filtres, etc.

Rapport :
  • Rapports rapides et faciles à sauvegarder en un clic au format MS Word ou PDF

Pour plus d'informations, contactez-nous afin de discuter des avantages spécifiques de nos solutions pour vos besoins d'analyse élémentaire.

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