Modes électriques avancés pour microscope à force atomique - Nano-Observer AFM - HD-KFM, ResiScope II, Soft ResiScope, sMIM

Modes électriques avancés pour AFM
Uniquement disponible avec le Nano-Observer AFM

• HD-KFM : High Definition Kelvin Force Microscopy
• ResiScope II : Courant/Résistance sur 10 décades
• Soft ResiScope : ResiScope sur échantillons délicats
• sMIM : Cartographie permittivité et conductivité au nm

Très haute sensibilité - Résolution spatiale supérieure
Microscopie à force Kelvin (KFM)
Cette technologie mesure le potentiel de surface entre une pointe conductrice oscillante et la surface. Elle permet de déterminer des propriétés intrinsèques telles que la fonction de travail ou la bande interdite.
Caractéristiques principales :

• Amplification du signal via le deuxième mode propre du cantilever
• Excellente sensibilité et résolution spatiale
• Idéal pour l'imagerie de petites molécules et de matériaux bidimensionnels

Applications :

• Science des matériaux
• Semi-conducteurs
• Polymères
• Sciences de la vie

HD-KFM - Le mode KFM à passe unique le plus avancé
Ce mode développé par CSI amplifie le signal de retour grâce au deuxième mode propre du cantilever. Cela permet un champ électrique plus précis et une meilleure résolution pour des matériaux comme le graphène.
ResiScope II - Courant et Résistance sur 10 décades
Un système unique capable de mesurer la résistance en AFM avec une grande sensibilité.
Caractéristiques :

• Cartographie de résistance et de courant
• Dynamique de 10 décades : 10² à 10¹² ohms
• Compatible avec les modes oscillants, KFM, etc.

Avantages :
La mesure est effectuée avec une réduction notable du courant entre la sonde et l'échantillon, limitant les effets locaux d'oxydation et protégeant la sonde.
Soft ResiScope
Ce mode innovant permet des mesures quantitatives de résistance/courant sur des échantillons souples comme les cellules solaires organiques, polymères conducteurs, etc., tout en préservant les échantillons grâce à un contact intermittent.
Caractéristiques :

• Technologie unique
• Force constante pour des mesures électriques précises
• Idéal pour polymères, matériaux organiques et échantillons biologiques

Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
Mode AFM développé par PrimeNano, permettant de mesurer les propriétés électriques des matériaux à l'échelle nanométrique.
Caractéristiques :

• Sensibilité aux métaux, semi-conducteurs et isolants
• Permettivité et conductivité mesurées au nanomètre
• Cartographie quantitative de la concentration en dopage
• Spectres C-V à l'échelle nanométrique

Principe :

1. ScanWave™ envoie des micro-ondes via une sonde blindée.
2. Interaction avec la surface et le sous-sol de l'échantillon.
3. Les variations des propriétés électriques locales sont détectées et analysées.

Pointes sMIM :
Les pointes sMIM sont des dispositifs MEMS offrant une haute résolution et un signal optimisé grâce à un blindage environnemental efficace.
Awards :

• Prix Yves Rocard 2014 (Société Française de Physique)
• Prix FIEEC pour la Recherche Appliquée (Rendez-Vous Carnot 2013)