Réflectomètre Multi site/ In-Situ - F30
Description
Réflectomètres Multi sites/ In-Situ - F30
1. Améliore considérablement la productivité
2. meilleur rapport qualité/prix
3. Rapide et précis
4. Facile à utilisé
5. Système clé en main
2. meilleur rapport qualité/prix
3. Rapide et précis
4. Facile à utilisé
5. Système clé en main
L'outil le plus puissant disponible pour surveiller le dépôt de couches minces
Mesurez les taux de dépôt, l'épaisseur du film, les constantes optiques (n et k) et l'uniformité des semi-conducteurs et des couches diélectriques en temps réel avec le système de réflectance spectrale F30.
Exemple de couches
MBE et MOCVD: Des films lisses et translucides, ou légèrement absorbants, peuvent être mesurés. Cela inclut pratiquement tous les matériaux semi-conducteurs, de l'AIGaN au GaInAsP.
Applications
Mesure des couches statiques
Pour les couches statiques (inchangées), le F30 mesure le spectre de réflectance de l'échantillon, puis analyse ces données avec des routines de simulation puissantes pour déterminer l'épaisseur de la couche et ses constantes optiques. Toute couche dans une pile de quatre couches au maximum peut être mesurée de cette manière.
Un système qui répond à vos besoins, y compris les applications multi-wafer
Le F30 comprend tout le nécessaire pour les mesures in situ: spectromètre, source de lumière, câble à fibres optiques et lentilles. Des montures d'objectif spéciales sont disponibles pour les applications à accès restreint, comme c'est souvent le cas dans le MOCVD. Une simple option de correction multi-wafer / wobble est également disponible - aucune pièce ou matériel de synchronisation compliqué n'est requis.
Interface Windows TM intuitive
Après une brève opération de configuration, la plupart des mesures ne nécessitent que quelques opérations à la souris. Les utilisateurs novices peuvent être formés en quelques minutes. Les données mesurées, ainsi que leurs détails, sont facilement sauvegardés et exportés
Mesurez les taux de dépôt, l'épaisseur du film, les constantes optiques (n et k) et l'uniformité des semi-conducteurs et des couches diélectriques en temps réel avec le système de réflectance spectrale F30.
Exemple de couches
MBE et MOCVD: Des films lisses et translucides, ou légèrement absorbants, peuvent être mesurés. Cela inclut pratiquement tous les matériaux semi-conducteurs, de l'AIGaN au GaInAsP.
Applications
- MBE
- MOCVD
- Matériaux
- Recherche
- Dureté
- Filtres
- Revêtement antireflet
Parfaitement adapté à la métrologie en production
La mesure simultanée du taux de dépôt à deux endroits ou plus révèle l'uniformité de l'échantillon. Le F30 fournit également un moyen efficace de détecter le rugosité de la surface associée aux transitions eutectiques utilisées pour l’étalonnage en température.
- Usages multiples
- Mesure de dépôt
La mesure simultanée du taux de dépôt à deux endroits ou plus révèle l'uniformité de l'échantillon. Le F30 fournit également un moyen efficace de détecter le rugosité de la surface associée aux transitions eutectiques utilisées pour l’étalonnage en température.
Mesure des couches statiques
Pour les couches statiques (inchangées), le F30 mesure le spectre de réflectance de l'échantillon, puis analyse ces données avec des routines de simulation puissantes pour déterminer l'épaisseur de la couche et ses constantes optiques. Toute couche dans une pile de quatre couches au maximum peut être mesurée de cette manière.
Un système qui répond à vos besoins, y compris les applications multi-wafer
Le F30 comprend tout le nécessaire pour les mesures in situ: spectromètre, source de lumière, câble à fibres optiques et lentilles. Des montures d'objectif spéciales sont disponibles pour les applications à accès restreint, comme c'est souvent le cas dans le MOCVD. Une simple option de correction multi-wafer / wobble est également disponible - aucune pièce ou matériel de synchronisation compliqué n'est requis.
Interface Windows TM intuitive
Après une brève opération de configuration, la plupart des mesures ne nécessitent que quelques opérations à la souris. Les utilisateurs novices peuvent être formés en quelques minutes. Les données mesurées, ainsi que leurs détails, sont facilement sauvegardés et exportés
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