Système d'inspection avancée aux rayons X multi-énergies, des bagages et des colis idéale dans l'industrie aéronautique - HI-SCAN 7555si
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Smiths Detection France
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Description
HI-SCAN 7555si
Inspection avancée aux rayons X
Avec de grandes dimensions de tunnel et un générateur de rayons X multi-énergies avancé, le HI-SCAN 7555si fournit une analyse d'image de haute qualité des bagages et des colis.
Information produit
Aperçu
Utilisant un générateur de rayons X multi-énergies avancé, le HI-SCAN 7555si produit des images radiographiques extrêmement détaillées avec plus du double du nombre de pixels par rapport aux autres systèmes. La résolution d'image améliorée des objets numérisés représente un avantage décisif pour l'évaluation des images.
Le HI-SCAN 7555si dispose d'une grande ouverture de tunnel et peut donc scanner des objets qui dépassent les dimensions standard de l'industrie aéronautique pour les bagages à main.
Peut être intégré dans des réseaux pour la gestion du système, l'archivage, la distribution d'images et les fonctionnalités TIP.
Faits saillants
Spécifications techniques
Max. taille de l'objet
Dimensions
Poids
Inspection avancée aux rayons X
Avec de grandes dimensions de tunnel et un générateur de rayons X multi-énergies avancé, le HI-SCAN 7555si fournit une analyse d'image de haute qualité des bagages et des colis.
Information produit
Aperçu
Utilisant un générateur de rayons X multi-énergies avancé, le HI-SCAN 7555si produit des images radiographiques extrêmement détaillées avec plus du double du nombre de pixels par rapport aux autres systèmes. La résolution d'image améliorée des objets numérisés représente un avantage décisif pour l'évaluation des images.
Le HI-SCAN 7555si dispose d'une grande ouverture de tunnel et peut donc scanner des objets qui dépassent les dimensions standard de l'industrie aéronautique pour les bagages à main.
Peut être intégré dans des réseaux pour la gestion du système, l'archivage, la distribution d'images et les fonctionnalités TIP.
Faits saillants
- Le générateur de rayons X comprend un spectre optimisé
- Technologie de capteur CRISP haute résolution
- Plateforme système HiTraX II avec portée étendue de services
- Affichage d'images haute résolution
- Pénétration d'acier jusqu'à 37 mm
- Détectabilité des fils jusqu'à AWG 41
Spécifications techniques
Max. taille de l'objet
- 750 (L) x 550 (H) [mm]
- 29,5 (L) x 21,7 (H) [po]
Dimensions
- 2 120 (L) x 985 (L) x 1 445 (H) [mm]
- 83,5" (L) x 38,8 (L) x 56,9 (H) [po]
Poids
- Environ 580 kg
- Environ. 1 287,7 livres
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