Système SAXSpoint 700

Le SAXSpoint est un analyseur de diffusion des rayons X aux petits angles (Small-Angle X-ray Scattering, SAXS) destiné à la caractérisation structurale de matériaux à l’échelle nanométrique. Cet instrument combine une source de rayons X fixe haute performance, une optique spécialisée et un détecteur haute sensibilité pour mesurer la diffusion des rayons X à faibles angles (SAXS), offrant des informations sur la taille, la forme, l’orientation et l’organisation interne des structures nano- et mésoscopiques dans des matériaux variés, qu’ils soient liquides, polymères, colloïdes, solides ou biologiques.
La technique SAXS est particulièrement puissante pour étudier des structures dont les dimensions typiques vont de 1 à plusieurs centaines de nanomètres, ce qui couvre des applications essentielles dans les secteurs des polymères, matériaux avancés, nanotechnologies, formulations pharmaceutiques, catalyseurs et sciences des surfaces. Contrairement à la diffraction des rayons X classique qui renseigne sur les structures cristallines à l’échelle atomique, la SAXS met en évidence des structurations plus larges (agrégats, particules, pores, chaînes polymériques, etc.).
Le SAXSpoint se caractérise par une conception compacte, stable et optimisée, adaptée aux laboratoires de recherche, aux plateformes de caractérisation multi-techniques et aux installations utilisateurs industriels. Il intègre une source de rayons X micro-focalisée avec optiques avancées, réduisant les aberrations et améliorant le rapport signal/bruit, ainsi qu’un détecteur 2D performant permettant d’acquérir rapidement des données bidimensionnelles de diffusion.
Fonctionnalités clés