L Series XRF - Système d'analyse XRF polyvalent avec grande chambre

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Description

Plage d’éléments : Aluminium 13 à Uranium 92
Excitation aux rayons X : 50 W (50 kV et 1 mA) micro-focus avec tube à anode
Détecteur : Détecteur à semi-conducteur en silicium avec résolution de 190 eV ou meilleure
Nombre de couches et éléments analysés : 5 couches (4 couches + base) et 10 éléments par couche avec analyse de composition jusqu’à 30 éléments simultanément
Filtres/Collimateurs : 4 filtres primaires / 4 collimateurs motorisés
Profondeurs focales : Plusieurs profondeurs focales fixes avec laser
Traitement numérique des impulsions : Analyseur multi-canaux numérique 4096 CH avec temps de mise en forme flexible ; traitement automatique du signal incluant correction du temps mort et correction des pics d’échappement
Ordinateur : Processeur de bureau Intel CORE i5 9e génération, disque dur SSD, 16 Go de RAM, équivalent Microsoft Windows 11 Professionnel 64 bits
Optique de la caméra : CMOS 1/4″ (6 mm) résolution VGA 1280×720
Grossissement vidéo : Zoom micro 30X et zoom numérique 7X : standard ; micro 55X : optionnel
Maintenant disponible avec optionnel vue table à double caméra
Alimentation électrique : 150 W, 100-240 volts, avec plage de fréquence de 47 Hz à 63 Hz
Environnement de travail : 10°C (50°F) à 40°C (104°F) et jusqu’à 98 % d’humidité relative, sans condensation
Poids : 110 kg
XY programmable : Taille de la table : 254 mm (10″) x 254 mm (10″) | Course : 254 mm (10″) x 254 mm (10″)
Dimensions internes : Hauteur : 254 mm (10″), Largeur : 559 mm (22″), Profondeur : 610 mm (24″)
Dimensions externes : Hauteur : 762 mm (30″), Largeur : 711 mm (28″), Profondeur : 762 mm (30″)

La série L est le système le plus polyvalent de Bowman


Offrant toutes les fonctionnalités de la série P avec l’avantage supplémentaire d’une chambre d’échantillons plus grande et d’un déplacement étendu de la platine X-Y. Elle est idéale pour mesurer des échantillons de plus de ~10 pouces (254 mm) dans n’importe quelle dimension. La platine agrandie permet de recevoir des composants surdimensionnés ou plusieurs pièces montées sur des supports. La chambre entièrement fermée peut accueillir des échantillons jusqu’à 22″ (559 mm) de large, 24″ (610 mm) de profondeur et 13″ (330 mm) de hauteur, avec un déplacement X-Y de 10″ x 10″ (254 mm x 254 mm).

La configuration standard comprend un assemblage multi-collimateur à 4 positions et une caméra à mise au point variable conçue pour mesurer les zones en retrait. Les tailles des collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisées selon les applications spécifiques. La platine X-Y programmable incluse permet une hauteur Z de chambre de 10″ (254 mm). Pour les échantillons plus grands, la platine peut être retirée afin de maximiser la hauteur Z de la chambre à 13″ (330 mm). Le système comprend également un détecteur SDD et un tube à rayons X micro-focus longue durée et robuste.




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