P Series XRF - Analyseur XRF série P avec platine XY programmable et détecteur SDD

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P Series XRF - Analyseur XRF série P avec platine XY programmable et détecteur SDD_0

Description

Specifications

Plage d’éléments : Aluminium 13 à Uranium 92
Excitation par rayons X : Tubé à anode W micro-focus 50 W (50kV et 1mA)
Détecteur : Détecteur à semi-conducteurs en silicium avec une résolution de 190eV ou meilleure
Nombre de couches
et d’éléments analysés :
5 couches (4 couches + base) et 10 éléments par couche avec analyse de composition jusqu’à 30 éléments simultanément
Filtres/Collimateurs : 4 filtres primaires / 4 collimateurs motorisés
Profondeurs focales : Profondeurs focales fixes multiples avec laser
Traitement numérique des impulsions : Analyseur numérique multicanal 4096 CH avec temps de mise en forme flexible. Traitement automatique du signal incluant la correction du temps mort et des pics d’échappement
Ordinateur : Processeur Intel CORE i5 9e gén., disque dur SSD, 16 Go de RAM, équivalent à Microsoft Windows 11 Professionnel 64 bits
Optique de la caméra : CMOS 1/4″ (6 mm) - résolution VGA 1280×720
Agrandissement vidéo : 30X Micro & 7X Zoom numérique : Standard ; 55X Micro : Optionnel
Alimentation électrique : 150W, 100-240 volts, fréquence de 47Hz à 63Hz
Poids : 52–70 kg
Platine XY motorisée/program-mable standard : Dimensions : 330 mm (13″) x 381 mm (15″) | Course : 127 mm (5″) x 152 mm (6″)
Platine XY programmable étendue : Dimensions : 718 mm (28,25″) x 610 mm (24″) | Course : 254 mm (10″) x 254 mm (10″)
Désormais disponible avec les options de platine étendue et maxi étendue
Platine XY programmable maxi étendue : Dimensions : 813 mm (32″) x 781 mm (30,75″) | Course : 406 mm (16″) x 406 mm (16″)
Dimensions internes : Hauteur : 140 mm (5,5″), Largeur : 305 mm (12″), Profondeur : 330 mm (13″)
Dimensions externes : Hauteur : 457 mm (18″), Largeur : 457 mm (18″), Profondeur : 610 mm (24″)

Série P : Précision et flexibilité pour l’analyse de divers échantillons


La série P est conçue pour offrir une polyvalence maximale, idéale pour mesurer des échantillons de tailles, formes et quantités variées. Elle est équipée d’une platine XY programmable de haute précision, qui offre une efficacité et une facilité d’utilisation supérieures par rapport à un plateau fixe. Les opérateurs peuvent se déplacer facilement vers les points de mesure souhaités à l’aide de la souris et d’une interface logicielle intuitive.

Des programmes de mesure multipoints peuvent être créés en un clic, permettant l’analyse automatisée de plusieurs zones d’échantillons. Un contrôle précis est également possible pour tester des zones critiques. La programmation multipoint permet aussi d’analyser des volumes d’échantillons plus importants.

La configuration standard comprend un ensemble de collimateurs multiples à 4 positions ainsi qu’une caméra à mise au point variable, idéale pour les zones de mesure en retrait ou difficiles d’accès. Les tailles de collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisées selon les besoins de l’application. Un détecteur à dérive de silicium (SDD) avancé est inclus, ainsi que notre tube à rayons X à micro-focus longue durée, garantissant des performances fiables et constantes.

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