G Series XRF - Analyseur XRF de haute précision Bowman, 50W, détecteur SDD, 5 couches

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Description

Specifications

Plage d’éléments : Du Potassium (19) à l’Uranium (92)
Excitation par rayons X : Tube à anode W micro-focalisé de 50 W (50kV et 1mA)
Détecteur : Détecteur à semi-conducteurs en silicium avec une résolution de 190eV ou meilleure
Nombre de couches
et d’éléments analysés :
5 couches (4 couches + base) et 10 éléments par couche, avec une analyse de composition jusqu’à 30 éléments simultanément
Filtres / Collimateurs : 4 filtres primaires / un collimateur (double collimateur en option)
Profondeurs de focalisation : Profondeur de focalisation fixe avec laser et mise au point automatique
Traitement numérique des impulsions : Analyseur multicanal numérique 4096 CH avec temps de mise en forme flexible. Traitement automatique du signal incluant correction du temps mort et des pics d’échappement
Ordinateur : Processeur de bureau Intel CORE i5 9e génération, disque dur SSD, 16 Go de RAM, Microsoft Windows 11 Professionnel 64 bits ou équivalent
Optique de la caméra : CMOS 1/4″ (6mm), résolution VGA 1280×720
Agrandissement vidéo : Zoom micro 30X & zoom numérique 7X : standard ; zoom micro 55X : optionnel
Alimentation électrique : 150W, 100-240 volts, plage de fréquence de 47Hz à 63Hz
Poids : 25 kg
XY motorisé/programmé standard : Taille de la table : Non disponible
XY programmable étendu : Taille de la table : Non disponible
Table échantillon manuelle XY en option : Taille de la table : 279 mm (11″) x 254 mm (10″) – Déplacement : 38 mm (1.5″) x 38 mm (1.5″)
Dimensions internes : Hauteur : 102 mm (4″), Largeur : 330 mm (13″), Profondeur : 305 mm (12″)
Dimensions externes : Hauteur : 330 mm (13″), Largeur : 356 mm (14″), Profondeur : 457 mm (18″)

Analyse XRF de haute précision avec la série G de Bowman


Les analyseurs XRF de la série G de Bowman se distinguent par deux caractéristiques principales : une imagerie vidéo de précision avancée et une mesure exclusive « par le bas » grâce à un axe Z motorisé avec mise au point automatique par laser — une fonctionnalité unique à Bowman. Cette conception innovante garantit des résultats extrêmement précis pour une grande variété d'applications.

Idéale pour les tests de bijoux, l’analyse des métaux précieux et les petits composants comme les connecteurs et les fixations, la série G dispose d’une chambre compacte et d’un faible encombrement. Une platine XY manuelle avec un déplacement de 1,5" x 1,5" permet un positionnement facile des pièces petites ou grandes.

Chaque analyseur XRF de la série G est équipé d’un collimateur fixe, d’une caméra à mise au point fixe, d’un détecteur SDD haute performance, et d’un tube à rayons X à micro-focalisation longue durée. Comme tous les instruments XRF de paillasse de Bowman, la série G est entièrement évolutive — avec des options pour plusieurs collimateurs et une caméra à mise au point variable, afin de répondre à vos besoins d’analyse en constante évolution.

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