O Series XRF - Analyseur par fluorescence X avec optique capillaire 80 μm

La série O offre des performances élevées avec une taille de spot rayon X extrêmement réduite.

Cela est rendu possible grâce à un système optique de focalisation par poly-capillaire, qui remplace l’assemblage de collimateur utilisé dans les systèmes standard de Bowman. Ces optiques concentrent les rayons X émis par la fenêtre de sortie du tube en un spot très précis (80 μm FWHM), tout en conservant pratiquement 100 % du flux du tube. Contrairement aux systèmes à collimateur, qui atténuent une grande partie des rayons X ne passant pas par de petites ouvertures, le système optique poly-capillaire dirige presque l’intégralité du faisceau vers l’échantillon. Résultat : une sensibilité nettement accrue pour l’analyse de composants très petits ou de revêtements fins. Des temps de test plus courts permettent également une meilleure répétabilité par rapport aux collimateurs de taille équivalente.

La configuration standard comprend des optiques de 80 μm ainsi qu’un détecteur SDD haute résolution capable de traiter des taux de comptage élevés. Le système est également équipé d’une caméra à fort grossissement, offrant un zoom vidéo 55x et un zoom numérique 7x — supérieur à des modèles comme la série P. Une platine échantillon XY programmable est incluse de série. En raison de la courte distance focale des optiques, les échantillons utilisés avec la série O doivent être plats.