Profilomètre optique nanométrique - D-surface-View pour inspection et contrôle qualité
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Description
Profilomètre optique D-surface-View
Caractéristiques principales :
D-Surface View est conçu pour :
Il permet le contrôle qualité des surfaces des plaquettes en qualifiant la rugosité, la forme, la planéité et la topographie, en une seule mesure, sur des plaquettes nues ou traitées.
Applications en profilométrie optique :
Profilométrie optique - Déflectométrie
Le D-Surface View utilise une technologie optique sans contact pour inspecter de grandes surfaces jusqu'à 300 mm de diamètre. Il garantit une production sans défaut et une livraison de produits de haute qualité.
Il peut être utilisé pour :
Applications de mesure :
Caractéristiques techniques :
(En image)
Caractéristiques principales :
- Inspection locale et globale : du millimètre (mm) au nanomètre (nm)
- Mesure en une seule acquisition
- Échelle nanométrique
D-Surface View est conçu pour :
- Aider les fabricants de plaquettes jusqu'à 300 mm de diamètre à réduire leurs coûts.
- Améliorer les rendements des dispositifs fabriqués grâce à une technologie de traitement avancée.
Il permet le contrôle qualité des surfaces des plaquettes en qualifiant la rugosité, la forme, la planéité et la topographie, en une seule mesure, sur des plaquettes nues ou traitées.
Applications en profilométrie optique :
- Solaire
- Fabrication de LED
- Automobile
- Équipement médical
- Universités, laboratoires de recherche et instituts
Profilométrie optique - Déflectométrie
Le D-Surface View utilise une technologie optique sans contact pour inspecter de grandes surfaces jusqu'à 300 mm de diamètre. Il garantit une production sans défaut et une livraison de produits de haute qualité.
Il peut être utilisé pour :
- Contrôle qualité de surface (unité individuelle ou lots).
- Inspection en ligne.
Applications de mesure :
- Texture : Rugosité et ondulation : mesurez la texture 2D et 3D, quantifiez la rugosité et l'ondulation grâce à des filtres logiciels.
- Forme : Arc et forme : mesurez la forme 2D ou l'arc d'une surface, quantifiez la hauteur et le rayon des structures courbes (ex. lentilles).
- Contrainte des couches minces : Mesurez facilement les contraintes 2D et 3D induites lors de la fabrication de dispositifs multi-couches.
- Analyse des défauts : Mesurez la topographie des défauts, comme la profondeur d'une rayure.
Caractéristiques techniques :
(En image)
Autres produits du vendeur pour : Profilomètres optiques
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