Nettoyeur plasma de table à grande chambre pour la R&D - Tergeo-plus - Chambre 160 mm et fonctionnalités avancées

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Description

Nettoyeur plasma Tergeo-plus
Nettoyeur plasma de table à grande chambre conçu pour la R&D et la production de faible à moyen volume.
La seule différence entre les nettoyeurs plasma Tergeo-plus et Tergeo réside dans la taille de la chambre d'échantillonnage :
  • Diamètre intĂ©rieur de la chambre : 160 mm (contre 110 mm pour le Tergeo).
  • Profondeur de la chambre : identique pour les deux modèles.
L'application du nettoyeur plasma Tergeo-plus est similaire à celle du Tergeo standard, avec la possibilité d'accueillir des échantillons plus grands.
Applications typiques :
  • Liaison par fil, sous-remplissage de la puce Ă  retournement, encapsulation et dĂ©capsulation de l'appareil.
  • Traitement de surface avant le revĂŞtement biomĂ©dical et amĂ©lioration de l'hydrophilie des implants mĂ©dicaux.
  • Nettoyage des optiques, du verre et du substrat avant collage Ă©poxy.
  • Nettoyage des plaquettes de silicium et calcination de photorĂ©sist.
  • PDMS, microfluidique, lames de verre et laboratoire sur puce.
  • Nettoyage d'Ă©chantillons SEM/TEM pour Ă©limination de la contamination par hydrocarbures.
  • AmĂ©lioration de la liaison pour mĂ©tal sur mĂ©tal ou composite.
  • AmĂ©lioration du collage des matĂ©riaux plastiques, polymères et composites.

Fonctionnalités :
  • Grande chambre d'Ă©chantillonnage : diamètre intĂ©rieur : 160 mm, profondeur : 280 mm.
  • Modes de nettoyage :
    • Plasma par immersion : gravure Ă  grande vitesse et modification de surface.
    • Plasma Ă  distance : Ă©limination douce de la contamination de surface (ex. : nettoyage d'Ă©chantillons SEM/TEM).
    • Fonctionnement pulsĂ© : plasma avec puissance RF moyenne infĂ©rieure Ă  0,5 watt pour Ă©chantillons dĂ©licats.
  • MĂ©thodes d'opĂ©ration :
    • ExĂ©cution automatique de mĂ©thode.
    • ExĂ©cution automatique de sĂ©quences de tâches.
    • OpĂ©ration manuelle.
  • Capteur plasma : double capteur de force plasma (brevet en instance) pour surveillance in situ et distante. IntensitĂ©s affichĂ©es en temps rĂ©el sur un Ă©cran tactile LCD.
  • ContrĂ´le de processus avancĂ© :
    • Capteur de pression et de tempĂ©rature.
    • DĂ©bitmètres de gaz via MFC.
    • Doubles capteurs de force de plasma.
    • Adaptation automatique de l'impĂ©dance.
  • MatĂ©riaux de la chambre : Bride en aluminium et tube en quartz de haute puretĂ© offrant une rĂ©sistance chimique amĂ©liorĂ©e et rĂ©duisant les impuretĂ©s alcalines (Ca, K, Na).
  • Porte-Ă©chantillon : plaque de quartz haute puretĂ© de 2 mm d'Ă©paisseur.
  • Taille de la chambre :
    • Diamètre intĂ©rieur : 160 mm.
    • Diamètre extĂ©rieur : 170 mm.
    • Profondeur : 280 mm.
  • Electrodes RF : conception externe rĂ©duisant la pulvĂ©risation de mĂ©tal comparĂ© aux Ă©lectrodes mĂ©talliques internes.
  • Puissance RF : alimentation RF haute frĂ©quence 13,56 MHz avec deux options de puissance : 0-75W et 0-150W. Plasma gĂ©nĂ©rĂ© avec densitĂ© Ă©levĂ©e comparĂ©e Ă  une alimentation KHz.
  • EntrĂ©es de gaz : jusqu'Ă  trois entrĂ©es contrĂ´lĂ©es par MFC (0 Ă  100 sccm), avec un port supplĂ©mentaire pour ventilation et purge.
  • Interface utilisateur : Ă©cran tactile rĂ©sistif de 7 pouces, utilisable avec les doigts (pas de stylet requis).
  • Mode d'emploi : total de 20 mĂ©thodes personnalisables avec jusqu'Ă  trois Ă©tapes de nettoyage dans une sĂ©quence de travail.

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Arthur MARQUES DE OLIVEIRA
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