Nettoyeur plasma Tergeo-EM pour microscopes TEM et SEM - Double source plasma et applications avancées
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                Description
Nettoyeur plasma Tergeo-EM - Nettoyeur plasma pour microscopes TEM et SEM
Nettoyage au plasma et activation de surface pour les échantillons, grilles et supports TEM et SEM
Des clients de nombreux instituts de recherche prestigieux à travers le monde ont acheté ce système plasma Tergeo-EM pour la cryo-EM, la TEM in situ, la recherche sur les matériaux et d'autres types d'applications de microscopie électronique à haute résolution. Le système de nettoyage au plasma Tergeo-EM et le système de stockage sous vide sur support TEM ont été bien accueillis par les utilisateurs de TEM et SEM.
Exemples de références : Caltech, UC-Berkeley, UIUC, NIH, Harvard, Laboratoires EAG, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Max-Planck-Institut en Allemagne, Université de LEES au Royaume-Uni, Université Tsinghua en Chine, Université nationale de Singapour, etc.
Notre nettoyeur Plasma et notre système de stockage sont perçus comme étant très polyvalents et beaucoup plus faciles à utiliser.
Le nettoyant plasma Tergeo-EM peut être utilisé pour éliminer les contaminations d'hydrocarbures sur les échantillons TEM et SEM. Il peut accepter deux porte-échantillons TEM en même temps. L'adaptateur avant peut être facilement remplacé pour prendre en charge plus de deux types différents de TEMS. L'utilisateur peut également charger directement des échantillons SEM et TEM dans la chambre à plasma. La chambre est suffisamment grande pour contenir deux tranches de 4". Le Tergeo-EM a été largement utilisé pour rendre la grille TEM hydrophile pour les applications cryo-EM. Il peut également activer la surface de la puce in situ de la cellule liquide.
La conception unique de double source de plasma et le fonctionnement en mode pulsé permettent une large gamme d'applications, y compris l'élimination à grande vitesse de la marque de brûlure de carbone STEM, le dépôt de carbone propre sur les ouvertures de colonne et l'activation de la surface du portique de grilles de carbone à trous ultra-minces et de grilles de graphène.
Applications:
Fonctionnalités:
Le nettoyeur plasma Tergeo-EM est le seul nettoyeur plasma TEM / SEM qui a intégré à la fois le nettoyage plasma en mode immersion (les échantillons sont immergés dans le plasma) et le nettoyage plasma en in-situ (les échantillons sont placés à l'extérieur du plasma) dans un seul système.
Le nettoyage par plasma in-situ élimine totalement la pulvérisation ionique des échantillons. De plus, un fonctionnement en mode pulsé unique peut générer des impulsions de plasma extrêmement courtes pour réduire davantage l'intensité du plasma pour les échantillons délicats. La technologie brevetée de capteur plasma surveille la force du plasma en temps réel. Il aide l'utilisateur à configurer la bonne méthode de nettoyage pour différents types d'échantillons.
Le nettoyeur plasma Tergeo-EM peut répondre à toutes les exigences, du nettoyage à grande vitesse pour les ouvertures et électrodes fortement contaminées dans la colonne optique électronique au nettoyage en douceur pour les échantillons tels que le graphène, le nanotube de carbone, le DLC (Diamond Like Carbon - carbone semblable au diamant), la fibre de carbone ou les échantillons TEM sur trou grille de carbone.
Le nettoyeur plasma Tergeo-EM est équipé d'une pompe sèche sans huile sans danger pour le service d'oxygène. Habituellement, de l'air ou un mélange gazeux 80% Ar + 20% O2 peut être utilisé pour l'application de nettoyage d'échantillons SEM / TEM. Deux à trois ports de distribution de gaz à débit massique contrôlé sont disponibles pour mélanger plusieurs gaz de procédé.
                    
                                    
            Nettoyage au plasma et activation de surface pour les échantillons, grilles et supports TEM et SEM
Des clients de nombreux instituts de recherche prestigieux à travers le monde ont acheté ce système plasma Tergeo-EM pour la cryo-EM, la TEM in situ, la recherche sur les matériaux et d'autres types d'applications de microscopie électronique à haute résolution. Le système de nettoyage au plasma Tergeo-EM et le système de stockage sous vide sur support TEM ont été bien accueillis par les utilisateurs de TEM et SEM.
Exemples de références : Caltech, UC-Berkeley, UIUC, NIH, Harvard, Laboratoires EAG, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Max-Planck-Institut en Allemagne, Université de LEES au Royaume-Uni, Université Tsinghua en Chine, Université nationale de Singapour, etc.
Notre nettoyeur Plasma et notre système de stockage sont perçus comme étant très polyvalents et beaucoup plus faciles à utiliser.
Le nettoyant plasma Tergeo-EM peut être utilisé pour éliminer les contaminations d'hydrocarbures sur les échantillons TEM et SEM. Il peut accepter deux porte-échantillons TEM en même temps. L'adaptateur avant peut être facilement remplacé pour prendre en charge plus de deux types différents de TEMS. L'utilisateur peut également charger directement des échantillons SEM et TEM dans la chambre à plasma. La chambre est suffisamment grande pour contenir deux tranches de 4". Le Tergeo-EM a été largement utilisé pour rendre la grille TEM hydrophile pour les applications cryo-EM. Il peut également activer la surface de la puce in situ de la cellule liquide.
La conception unique de double source de plasma et le fonctionnement en mode pulsé permettent une large gamme d'applications, y compris l'élimination à grande vitesse de la marque de brûlure de carbone STEM, le dépôt de carbone propre sur les ouvertures de colonne et l'activation de la surface du portique de grilles de carbone à trous ultra-minces et de grilles de graphène.
Applications:
- Éliminer la contamination aux hydrocarbures sur les échantillons TEM et SEM avant l'imagerie.
- Supprimer les dépôts de carbone après imagerie STEM.
- Rendre la grille TEM hydrophile pour les applications cryo-EM. Le mode in-situ doux et le plasma pulsé peuvent gérer des grilles de carbone et de graphène ultra-minces sans endommager les grilles fragiles.
- Éliminer la contamination organique et activer la surface de la puce TEM et SEM in situ.
- Rendre la surface de la cellule liquide hydrophile.
Fonctionnalités:
Le nettoyeur plasma Tergeo-EM est le seul nettoyeur plasma TEM / SEM qui a intégré à la fois le nettoyage plasma en mode immersion (les échantillons sont immergés dans le plasma) et le nettoyage plasma en in-situ (les échantillons sont placés à l'extérieur du plasma) dans un seul système.
Le nettoyage par plasma in-situ élimine totalement la pulvérisation ionique des échantillons. De plus, un fonctionnement en mode pulsé unique peut générer des impulsions de plasma extrêmement courtes pour réduire davantage l'intensité du plasma pour les échantillons délicats. La technologie brevetée de capteur plasma surveille la force du plasma en temps réel. Il aide l'utilisateur à configurer la bonne méthode de nettoyage pour différents types d'échantillons.
Le nettoyeur plasma Tergeo-EM peut répondre à toutes les exigences, du nettoyage à grande vitesse pour les ouvertures et électrodes fortement contaminées dans la colonne optique électronique au nettoyage en douceur pour les échantillons tels que le graphène, le nanotube de carbone, le DLC (Diamond Like Carbon - carbone semblable au diamant), la fibre de carbone ou les échantillons TEM sur trou grille de carbone.
Le nettoyeur plasma Tergeo-EM est équipé d'une pompe sèche sans huile sans danger pour le service d'oxygène. Habituellement, de l'air ou un mélange gazeux 80% Ar + 20% O2 peut être utilisé pour l'application de nettoyage d'échantillons SEM / TEM. Deux à trois ports de distribution de gaz à débit massique contrôlé sont disponibles pour mélanger plusieurs gaz de procédé.
Autres produits du vendeur pour : Équipements de traitement au plasma
 
                     
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                            La société ScienTec est spécialisée dans la distribution et le développement d'équipements scientifiques et industriels dédiés à la caractérisation et à l'analyse de surface ainsi qu'à la photométrie, radiométrie et spectroradiométrie. 
                         
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