Outil de mesure de résistance et conductivité Filmetrics - Série R50
Description
Cartograhie de resistivité et conductivité - Série R50
1. Sonde à quatre points et systèmes de sonde à courants de Foucault
2. Exemple de cartographie dans des configurations rectangulaires, linéaires, polaires et personnalisées
3. X-Y jusqu'à 200 mm
4. Mesurez une plage de dix décades de résistance de film conducteurs et semi-conducteurs
5. Mesure avec et sans contact
Les outils de mesure de résistance et conductivité Filmetrics® marient la technologie développée et perfectionnée par KLA depuis plus de 30 ans avec la technologie des instruments de paillasse développée au cours des 20 dernières années par l'équipe Filmetrics. Les technologies KLA comprennent des méthodes avec et sans contact. La famille Filmetrics d'instruments de mesure de résistance de film peut mesurer des films conducteurs et des couches minces déposées sur divers substrats.
Applications
Un large éventail de mesures est pris en charge :
1. Sonde à quatre points et systèmes de sonde à courants de Foucault
2. Exemple de cartographie dans des configurations rectangulaires, linéaires, polaires et personnalisées
3. X-Y jusqu'à 200 mm
4. Mesurez une plage de dix décades de résistance de film conducteurs et semi-conducteurs
5. Mesure avec et sans contact
Les outils de mesure de résistance et conductivité Filmetrics® marient la technologie développée et perfectionnée par KLA depuis plus de 30 ans avec la technologie des instruments de paillasse développée au cours des 20 dernières années par l'équipe Filmetrics. Les technologies KLA comprennent des méthodes avec et sans contact. La famille Filmetrics d'instruments de mesure de résistance de film peut mesurer des films conducteurs et des couches minces déposées sur divers substrats.
Applications
Un large éventail de mesures est pris en charge :
- Semiconducteurs
- Wafer
- Substrats en verre
- Substrats en plastique (flexibles)
- Caractéristiques à motifs PCB
- Cellules solaires
- Couches d'affichage à écran plat et fonctionnalités à motifs
- Feuilles métalliques
Cartographie de résistivité/conductivité automatisée des films
La série Filmetrics R50 fournit des mesures par sonde à quatre points de contact (4PP) et par courants de Foucault (EC) sans contact. Le R50 cartographie la résistivité / conductivité du film conducteur aussi rapidement que 1 point / s. La platine X-Y motorisée utilise un mandrin de plaquette standard ou un porte-échantillon personnalisé pour des tailles d'échantillon jusqu'à 300 mm et plusà une zone de mesure de 200 mm.
Caractéristiques standards:
- de 200 mm x 200 mm (-200 modèles)
Logiciel de la série R50 : Automatisation des mesures
Voici quelques-uns des paramètres que vous pouvez ajuster pour personnaliser les propriétés de votre carte:
-Cartes rondes ou carrées
- Motifs radiaux ou rectangulaires
- Exclusion de centre ou de bord
- Densité du spot
UNIFORMITÉ DU FILM TIWN
Le logiciel RsMapper génère des cartes faciles à visualiser de la résistivité variable du film. La carte de résistance de feuille mesurée d'un film TiWN illustrée ci-dessous illustre la variation d'épaisseur de film à travers la tranche en raison du processus de dépôt. La carte révèle la variation non radiale du processus.
MESURES DE SIGNAL À BRUIT ÉLEVÉ D'UN FILM MÉTALLIQUE SUR SI
Le système R50-4PP offre à l'utilisateur la possibilité de consulter la carte de mesure sous forme de graphique de points reliant la résistivité au moment où chaque mesure a été effectuée. Les points tracés illustrent la qualité du signal sur bruit du système avec une résistivité variable. L'onglet historique est un outil idéalpour les cas d'utilisation de production et illustre les anomalies ponctuelles d'un film. Ceux-ci peuvent être retracés àemplacements spécifiques des plaquettes et enquêté plus avant pour diagnostiquer les problèmes de processus.
Modèles (disponibles au 3e trimestre 2020)
La série Filmetrics R50 fournit des mesures par sonde à quatre points de contact (4PP) et par courants de Foucault (EC) sans contact. Le R50 cartographie la résistivité / conductivité du film conducteur aussi rapidement que 1 point / s. La platine X-Y motorisée utilise un mandrin de plaquette standard ou un porte-échantillon personnalisé pour des tailles d'échantillon jusqu'à 300 mm et plusà une zone de mesure de 200 mm.
Caractéristiques standards:
- Platine X-Y automatisée avec:
- de 200 mm x 200 mm (-200 modèles)
- Course en Z de 100 mm
- Platine basculante avec course de +/- 5 °
- Nombre illimité d'emplacements de mesure dans un exemple de carte
Logiciel de la série R50 : Automatisation des mesures
- LE GÉNÉRATEUR DE MOTIFS DE CARTE
Voici quelques-uns des paramètres que vous pouvez ajuster pour personnaliser les propriétés de votre carte:
-Cartes rondes ou carrées
- Motifs radiaux ou rectangulaires
- Exclusion de centre ou de bord
- Densité du spot
- VISUALISATION DES RÉSULTATS DE MESURE EN 2D ET 3D
UNIFORMITÉ DU FILM TIWN
Le logiciel RsMapper génère des cartes faciles à visualiser de la résistivité variable du film. La carte de résistance de feuille mesurée d'un film TiWN illustrée ci-dessous illustre la variation d'épaisseur de film à travers la tranche en raison du processus de dépôt. La carte révèle la variation non radiale du processus.
MESURES DE SIGNAL À BRUIT ÉLEVÉ D'UN FILM MÉTALLIQUE SUR SI
Le système R50-4PP offre à l'utilisateur la possibilité de consulter la carte de mesure sous forme de graphique de points reliant la résistivité au moment où chaque mesure a été effectuée. Les points tracés illustrent la qualité du signal sur bruit du système avec une résistivité variable. L'onglet historique est un outil idéalpour les cas d'utilisation de production et illustre les anomalies ponctuelles d'un film. Ceux-ci peuvent être retracés àemplacements spécifiques des plaquettes et enquêté plus avant pour diagnostiquer les problèmes de processus.
Modèles (disponibles au 3e trimestre 2020)
- R50-4PP
- R50-EC
- R50-200-4PP
- R50-200-EC
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Type d'appareil :
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