Plateforme de métrologie optique modulaire altisurf© 520
Description
- Plateforme de métrologie modulaire 200X200X200mm
- Spécifications - type : mfd 2nm/mm, sigma/step inf. 3nm
- Jusqu'à 5 sondes embarquées indexées
* Optique confocal chromatique, laser, palpeur mécanique
* Caméras à zoom fixe ou motorisé de prog. des zones de mesure
* Senseur microforce
- Jusqu'à 4 axes motorisés cc : XYZW
- Codeurs 0,1µm
- Correction non-linéaire des axes
- Calibration de l'hystérésis
- Logiciel sous Windows XP
- Mode production automatique, IHM bord de ligne feux vert/rouge
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