Plateforme de métrologie optique modulaire altisurf© 520 tpr
Description
Plateforme de métrologie de très haute précision
- Mesure de trous Ø 100 µm
- Spécifications - type : mfd 2nm/mm, sigma/step inf. 3nm
- Capteurs optiques et à contact
* Optique confocal chromatique
* Capteur inductif needle Ø 35 µm
* Caméras à zoom de prog. des zones de mesure
- Jusqu'à 9 axes permettant un ajustement précis
- Codeurs 0,1µm
- Mode production automatique, IHM bord de ligne feux vert/rouge
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